電子メール : fxmkfm999@163.com

日本語

何を探していますか?

シスコの電源純正圧力スイッチオリジナルサーボモーターファーウェイスイッチオリジナル遠心ファン三菱CPUモジュールアレン・ブラッドリー AC ドライブ新しいオリジナルACドライブ安川サーボモーターオリジナルPLCモジュール

家その他

新品 Lam Research E36W-L14 マスフローコントローラー

高精度、安定した性能

産業用自動化に適しています

在庫あり＆世界中へ迅速配送

商品番号:
E36W-L14
注文(MOQ):
1
支払い:
100% T/T
製品の起源:
USA
色:
As Model
出荷港:
Xiamen
リードタイム：
2-3 days

今すぐ問い合わせる

カテゴリー

どのようにお手伝いできますか

ご都合のよい方法でご連絡いただけます。電子メールまたは電話で 24 時間 365 日対応いたします

お問い合わせ

新製品

製品詳細

説明:

LAM Researchの光ファイバ分光計は、半導体ウェーハ処理装置に統合された高精度な光学モニタリングデバイスです。主にプロフェッショナルな光学モジュールと組み合わせて使用され、光ファイバ伝送設計を採用し、プロセスチャンバー内のプラズマ発光、反射および透過スペクトルを取得します。エッチングのエンドポイント検出、薄膜計測、およびリアルタイムのプラズマ状態監視に広く使用され、これらのユニットは安定したプロセス性能を確保し、生産歩留まりを向上させ、エッチング、CVD、PVDおよびその他の真空製造プロセスにおける不良品を削減します。純正OEM互換コンポーネントとして、LAM全シリーズプロセスツールに対して優れた互換性と長期信頼性を備えています。

主な仕様:

高感度CCD/PMT検出器を搭載し、優れたスペクトル分解能と低ノイズを実現します。UV-可視波長範囲をカバーし、多様な半導体プロセス監視ニーズに対応します。
標準SMAファイバインターフェースは長距離信号伝送をサポートします。真空対応プローブは高真空・高温・プラズマ環境下でも安定して動作します。
リアルタイムスペクトル解析により、正確なエッチングエンドポイント判定、薄膜厚さおよび光学特性の測定が可能となり、過剰エッチングや不足エッチングを効果的に防止します。
内蔵EthernetおよびRS-232通信ポートを備え、LAM装置プロトコルと完全互換でシームレスなデータ連携およびシステム統合を実現します。
コンパクトで堅牢な構造を持ち、耐振動・耐干渉性能を備えています。24時間365日の連続稼働をサポートし、現場での簡単な交換が可能です。

主な用途:

プラズマエッチングシステム、CVD、PVDおよびALD薄膜堆積装置
ウェーハエッチングプロセスのエンドポイント検出
インサイチュ薄膜厚さおよび反射率測定
真空プロセスチャンバーのリアルタイムプラズマ状態解析
LAM Research 2300、9400、ExALおよびその他の主要プロセスプラットフォーム

よくある質問:

Q1:製品の状態と保証はどうなっていますか？
A:新品の純正品です。1年間の保証付きです。

Q2:支払い条件は何ですか？
A:T/T、PayPal対応。

Q3: 製品の納期はどのくらいですか？在庫は十分にありますか？
A:標準モデルは在庫があり、支払い後3～5営業日で出荷されます。希少モデルはメーカー発注が必要となるため、納期についてはカスタマーサービスまでお問い合わせください。

Q4:配送と追跡
A:DHL/FedEx/UPSが利用可能です。出荷後に追跡番号とリンクを提供します。全プロセスを当社チームが監視します。

Q5:梱包と安全性